XRF鍍層厚度檢測儀

系列X射線熒光分析測厚儀特點：

系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。

系列鍍層測厚儀的優勢

• 操作簡單，只需要很少的培訓就可以操作

• 檢測速度快，無損檢測只需幾秒鐘

• 可測試單層及多層鍍層的厚度

• 可以測試電鍍液中金屬離子含量

• 對測試樣品*無損

• 市場上性價比

• 自動化批量檢測：可選配XYZ全自動工作臺

• 應用行業廣泛：電子，珠寶，金屬加工等等

操作軟件

可選軟件模塊

• µ-Master 用于鍍層厚度測量

• Element-Master 用于材料分析

• Report-Master 用于生成報告文件

• Data-Master 用于數據庫管理

• %-Master 用于材料分析（珠寶）

• Liquid-Master 用于電鍍液分析

選配置

• 自動的多準直器系統

• 軟件控制XYZ軸實現自動化批量檢測

系列技術特點

一、功能

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

• 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

• 鍍層層數：多至5層。

• 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

• 測量時間：通常35秒-180秒。

• 樣品尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x)。

• 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

• 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

• 同時定量測量8個元素。

• 定性鑒定材料達20個元素。

• 自動測量功能：編程測量，自定測量；修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
  定性分析功能：光譜表示，光譜比較；定量分析功能：合金成份分析
  數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。

二、特點

• 具有多種測試功能，僅需要一臺儀器，即可解決多種測試

• 儀器操作簡單，便可獲得很好的準確性和重現性

• 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析
  鍍層分析:可分析四層以上厚度,的FP分析軟件,真正做到無標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.*超越其他品牌的所謂FP軟件.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

售后服務

• 交貨期：公司將嚴格按照商務合同約定及時交貨，確保到貨時儀器的各個系統完整性并符合商務合同所規定的供貨范圍。

• 安裝準備：在儀器到達客戶工作現場后書面告訴儀器安裝條件，客戶根據安裝條件做好準備工作。公司派遣經過培訓并考核合格的工程師在規定的時間到客戶現場安裝、調試儀器。

• 安裝和現場培訓：公司原廠工程師負責免費安裝、調試，現場培訓操作人員，使參訓人員能正常操作儀器、初步會判斷故障、簡單維護保養。

• 儀器保修: 儀器保修期為自安裝驗收合格之日起24個月或發貨后27個月，先到者為準。保修期內，由于非人為或不可抗力因素，造成儀器故障及損壞，將無償負責解決(消耗品除外)。通常將在4個工作小時內給予實質性響應。

• 終身維修服務: 保修期后，將繼續免費提供儀器技術咨詢和支持，有償提供維修服務，有償供應備品備件。

• 技術交流：公司將按計劃對用戶實施回訪，解答用戶技術問題。并不定期舉辦行業用戶交流會，為用戶提供交流平臺；

XRF鍍層厚度檢測儀